可控硅測(cè)試儀那些特性的好壞，影響了什么

更新時(shí)間：2018-04-26

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　　可控硅測(cè)試儀的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的zui基本特性，這些特性的好壞，直接影響到器件在整機(jī)上的正常使用。因此，可控硅測(cè)試儀檢測(cè)晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產(chǎn)、經(jīng)銷及使用過程中都是十分重要的。測(cè)試以上參數(shù)通常由晶閘管伏安特性測(cè)試儀和晶閘管門極觸發(fā)特性測(cè)試儀完成，測(cè)試伏安特性參數(shù)時(shí)還需另配一臺(tái)示波器觀看伏安特性曲線，以上三臺(tái)儀器常規(guī)價(jià)在7000—10000元以上，且臺(tái)數(shù)多、占地大、操作不方便。我們根據(jù)廣大用戶的需求，現(xiàn)研制出將以上三臺(tái)儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發(fā)特性綜合測(cè)試儀。

　　可控硅測(cè)試儀能以毫安級(jí)電流控制大功率的機(jī)電設(shè)備，如果超過此頻率，因元件開關(guān)損髦顯著增加，允許通過的平均電流相降低，此時(shí)，標(biāo)稱電流應(yīng)降級(jí)使用。

　　可控硅測(cè)試儀擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長度引起的任何壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。可控硅測(cè)試儀面板顯示裝置可及時(shí)顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計(jì)算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。

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